E. V. Sysoev, A. V. Latyshev, “Measuring the Interatomic Distance in a Silicon Crystal Lattice Using an Optical Scanning Interferometer”, Optoelectron.Instrument.Proc., 57:6 (2021), 561
А. А. Дьяченко, В. П. Рябухо, “Определение оптических толщин слоистых объектов по интерференционным цветам изображений в микроскопии белого света”, Компьютерная оптика, 41:5 (2017), 670–679
E. V. Sysoev, I. A. Vykhristyuk, R. V. Kulikov, A. K. Potashnikov, V. A. Razum, L. M. Stepnov, “Interference microscope-profilometer”, Optoelectron.Instrument.Proc., 46:2 (2010), 198
V. P. Ryabukho, D. V. Lyakin, V. V. Lychagov, “Longitudinal coherence length of an optical field”, Opt. Spectrosc., 107:2 (2009), 282