|
ОБЗОРЫ АКТУАЛЬНЫХ ПРОБЛЕМ
Обзор работ, доложенных на заседаниях секции “Фотоэлектрические явления в полупроводниках”
С. М. Рывкин
Аннотация:
Изучение фотоэлектрических и оптических свойств занимает важное место в общем комплексе исследований свойств полупроводников. Это определило тот интерес к работе фотоэлектрической секции, который проявился в дни работы конференции.
Образец цитирования:
С. М. Рывкин, “Обзор работ, доложенных на заседаниях секции “Фотоэлектрические явления в полупроводниках””, УФН, 60:2 (1956), 225–248
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn12820 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v60/i2/p225
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 37 | PDF полного текста: | 9 |
|