|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
МЕТОДИЧЕСКИЕ ЗАМЕТКИ
Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера
Э. Гехт Университет Адельфи, США
Аннотация:
Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Образец цитирования:
Э. Гехт, “Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера”, УФН, 111:2 (1973), 355–364; Amer. J. Phys., 40 (1972), 571–575
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn10470 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v111/i2/p355
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 55 | PDF полного текста: | 18 |
|