|
Теплофизика высоких температур, 1981, том 19, выпуск 5, страницы 1050–1060
(Mi tvt8532)
|
|
|
|
Высокотемпературные аппараты и конструкции
Экспериментальное исследование межэлектродного пробоя в МГД-каналах
В. И. Залкинд, В. В. Кириллов, А. С. Тихоцкий, Г. Л. Успенская, Д. К. Буренков, Н. В. Стрекалов Институт высоких температур Академии наук СССР, г. Москва
Аннотация:
Изложены результаты экспериментальных исследований межэлектродного пробоя в МГД-каналах Установки У-02, проводимых в развитие опубликованных работ. Разработанная ранее методика развита и дополнена определением параметров развитого пробоя. Исследования проведены с различными типами электродов
в широком диапазоне температур их поверхности и при различной ширине межэлектродных промежутков. Определены условия возникновения двух типов пробоя: по плазме ("быстрый" пробой) и по поверхности межэлектродного изолятора ("медленный" пробой). Изучен механизм развития "медленного" пробоя. Установлена роль "привязок" тока на электродах в возникновении обоих типов пробоя; выявлены различия
в развитии процессов на анодной и катодной стенках. В достаточно широком диапазоне изменения ширины межэлектродного промежутка получены данные о влиянии этого параметра на образование и характеристики пробоя. Получены данные о величине тока и мощности межэлектродного разряда после пробоя.
Поступила в редакцию: 30.07.1980
Образец цитирования:
В. И. Залкинд, В. В. Кириллов, А. С. Тихоцкий, Г. Л. Успенская, Д. К. Буренков, Н. В. Стрекалов, “Экспериментальное исследование межэлектродного пробоя в МГД-каналах”, ТВТ, 19:5 (1981), 1050–1060; High Temperature, 19:5 (1981), 766–774
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvt8532 https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v19/i5/p1050
|
|