Определение сечений фотоионизации по силам осцилляторов спектральных линий

Предлагается оценивать сечения фотоионизации в припороговой об­ласти с помощью экстраполяции плотности измеренных сил осциллято­ров за предел спектральной серии (получены результаты для $\mathrm{Al}$, $\mathrm{Ga}$, $\mathrm{In}$, $\mathrm{Sr}$) и указывается, что если сечение фотоионизации и соответствующие силы осцилляторов измерены, то взаимное соответствие сечения и плот­ности сил осцилляторов служит критерием надежности измерений. Из анализа имеющихся экспериментальных данных найдено, что в условиях плазмы (когда наблюдается сдвиг порога) сечение фотоионизации оказы­вается продолженным в длинноволновую сторону в соответствии с невоз­мущенной плотностью сил осцилляторов соответствующей спектральной серии.