Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теплофизика высоких температур, 1965, том 3, выпуск 2, страницы 238–243 (Mi tvt7938)  

Теплофизические свойства веществ

Быстрый количественный анализ высокотемпературных материалов методом осциллографической полярографии

Я. П. Гохштейн

Научно-исследовательский институт высоких температур
Аннотация: Описывается метод осциллографической полярографии, позволяющий проводить количественное определение ниобия при избытке циркония, а также титана в присутствии значительных количеств ниобия и цирко­ния. Метод не требует предварительного разделения указанных элемен­тов. Исследования проводились на осциллографическом полярографе ОП-$1$-$61$ Смоленского завода средств автоматики.
Поступила в редакцию: 09.07.1964
Тип публикации: Статья
УДК: 543.253
Образец цитирования: Я. П. Гохштейн, “Быстрый количественный анализ высокотемпературных материалов методом осциллографической полярографии”, ТВТ, 3:2 (1965), 238–243
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Gok65}
\by Я.~П.~Гохштейн
\paper Быстрый количественный анализ высокотемпературных материалов методом осциллографической полярографии
\jour ТВТ
\yr 1965
\vol 3
\issue 2
\pages 238--243
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt7938}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt7938
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v3/i2/p238
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024