|
Теплофизика высоких температур, 1977, том 15, выпуск 5, страницы 994–999
(Mi tvt7222)
|
|
|
|
Теплофизические свойства веществ
Метод измерения теплопроводности тонких пленок по нормали к слою
Б. Н. Егоров, В. С. Килессо, А. Г. Комаров г. Москва
Аннотация:
Предложен метод измерения теплопроводности тонких пленок, в котором использован принципиально новый способ измерения перепада температуры на тонком слое. Проведен анализ методической погрешности. Определяется минимальная толщина пленки, теплопроводность которой можно измерить предлагаемым методом: рассматриваются варианты конструктивной реализации метода. Приводятся экспериментальные значения теплопроводности пяти марок электроизоляции (толщиной $25$–$50$ мкм) медных проводов.
Поступила в редакцию: 11.08.1976
Образец цитирования:
Б. Н. Егоров, В. С. Килессо, А. Г. Комаров, “Метод измерения теплопроводности тонких пленок по нормали к слою”, ТВТ, 15:5 (1977), 994–999; High Temperature, 15:5 (1977), 841–845
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvt7222 https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v15/i5/p994
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 245 | PDF полного текста: | 136 |
|