Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теплофизика высоких температур, 1967, том 5, выпуск 5, страницы 901–906 (Mi tvt6388)  

Высокотемпературные аппараты и установки

Определение добротности полупроводниковых термоэлектрических устройств при постоянном тепловом потоке

А. Т. Белевцев, Р. В. Ковальский, М. С. Яхац

Москва
Аннотация: В работе предлагается три метода измерения добротности термоэлектрических материалов и устройств по нагрузочным характеристикам при постоянном тепловом потоке. Выведены расчетные формулы для вычисления $z$. Достоинством предлагаемых методик являются их простота и возможность осуществлять измерения экспрессно.
Поступила в редакцию: 17.06.1966
УДК: 537.323
Образец цитирования: А. Т. Белевцев, Р. В. Ковальский, М. С. Яхац, “Определение добротности полупроводниковых термоэлектрических устройств при постоянном тепловом потоке”, ТВТ, 5:5 (1967), 901–906
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Bel67}
\by А.~Т.~Белевцев, Р.~В.~Ковальский, М.~С.~Яхац
\paper Определение добротности полупроводниковых термоэлектрических устройств при постоянном тепловом потоке
\jour ТВТ
\yr 1967
\vol 5
\issue 5
\pages 901--906
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt6388}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt6388
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v5/i5/p901
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024