Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Теплофизика высоких температур, 1968, том 6, выпуск 3, страницы 507–512 (Mi tvt5591)  
Методы экспериментальных исследований и методы измерений

Границы применимости спектроскопических методов определения концентрации заряженных частиц в низкотемпературной плазме и их погрешности

Л. И. Гречихин

Институт физики Академии наук БССР
PDF полного текста (435 kB)
Аннотация: Дастся обоснование границ применимости различных спектроскопических способов определения концентрации заряженных частиц в низкотемпературной плазме. Анализируются их погрешности и пути устранения.
Поступила в редакцию: 23.04.1966
Тип публикации: Статья
УДК: 533.082.5
Образец цитирования: Л. И. Гречихин, “Границы применимости спектроскопических методов определения концентрации заряженных частиц в низкотемпературной плазме и их погрешности”, ТВТ, 6:3 (1968), 507–512
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Gre68}
\by Л.~И.~Гречихин
\paper Границы применимости спектроскопических методов определения концентрации заряженных частиц в~низкотемпературной плазме и их погрешности
\jour ТВТ
\yr 1968
\vol 6
\issue 3
\pages 507--512
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt5591}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt5591
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v6/i3/p507
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:106
    PDF полного текста:63
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024