Диаграммы для высокотемпературных измерений

Предлагается удобное для практических целей оформление нового метода измерения высоких температур. Этот метод основан на предварительных теоретических расчетах смещения $\Delta\nu$ и уширения $\Delta\gamma$ спектральных линий, обусловленных квадратичным эффектом Штарка, как функции температур $T$. Смещение и уширение как функции $T$ для элементов $\mathrm O$, $\mathrm{Na}$, $\mathrm{Mg}$, $\mathrm{Al}$ и $\mathrm{Si}$ вычислены на ЭВМ и составлены соответствующие диаграммы. Из этих диаграмм можно извлечь кривые изменения $\Delta\nu$ и $\Delta\gamma$ как функции $T$ для любой линии этих элементов, для которой известна константа квадратичного эффекта Штарка. Таким образом, определение $T$ сводится к экспериментальному измерению $\Delta\nu$ и $\Delta\gamma$ для данной линии и по соответствующей диаграмме – нахождению $T$. Метод пригоден для определения $T$ от $10^4$ до $10^{5\circ}$ К. Рассмотрены границы применимости метода.