Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теплофизика высоких температур, 2011, том 49, выпуск 3, страницы 390–400 (Mi tvt408)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Теплофизические свойства веществ

Изучение расплава оксида алюминия в средней ИК-области спектра при его затвердевании в процессе свободного охлаждения

В. К. Битюков, В. А. Петров

Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)
Список литературы:
Аннотация: Приведены результаты измерения интенсивности излучения в средней ИК-области спектра от $3$ до $11$ мкм при охлаждении и затвердевании в окружающем воздухе как “толстых” слоев расплава чистого оксида алюминия толщиной в несколько мм, так и “тонких” слоев расплава толщиной в десятые доли мм. В первом случае расплав удерживался в порошковой засыпке из того же вещества, во втором случае бассейн с расплавом формировался на поверхности керамики. Результаты представлены как зависимости от времени сигналов инфракрасного спектрометра, пропорциональных интенсивности выходящего из расплава излучения, для различных длин волн. Кроме того, для толстых слоев расплава на плато затвердевания представлены данные по зависимости излучательной способности от времени. На основании полученных результатов, а также результатов предшествующих исследований и расчетов радиационно-кондуктивного теплопереноса при охлаждении и затвердевании показано, что интенсивность выходящего излучения определяется при кристаллизации не только оптическими свойствами расплава и кристалла, но зависит также от толщины расплава и поля температуры в расплаве, существовавшем перед началом охлаждения. Наличие почти горизонтального участка на плато затвердевания обусловлено существованием изотермической двухфазной зоны, однако при толщине расплава в несколько миллиметров такой участок разной продолжительности наблюдается лишь в диапазоне длин волн от $5$ до $11$ мкм.
Поступила в редакцию: 16.11.2009
Англоязычная версия:
High Temperature, 2011, Volume 49, Issue 3, Pages 380–389
DOI: https://doi.org/10.1134/S0018151X11020027
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 535.3+535.36+535.20
Образец цитирования: В. К. Битюков, В. А. Петров, “Изучение расплава оксида алюминия в средней ИК-области спектра при его затвердевании в процессе свободного охлаждения”, ТВТ, 49:3 (2011), 390–400; High Temperature, 49:3 (2011), 380–389
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BitPet11}
\by В.~К.~Битюков, В.~А.~Петров
\paper Изучение расплава оксида алюминия в средней ИК-области спектра при его затвердевании в процессе свободного охлаждения
\jour ТВТ
\yr 2011
\vol 49
\issue 3
\pages 390--400
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt408}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=16455650}
\transl
\jour High Temperature
\yr 2011
\vol 49
\issue 3
\pages 380--389
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0018151X11020027}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000291488100010}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=16983207}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-79960063365}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt408
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v49/i3/p390
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:285
    PDF полного текста:124
    Список литературы:55
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024