Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Теплофизика высоких температур, 1989, том 27, выпуск 4, страницы 813–814 (Mi tvt4000)  
Краткие сообщения

Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы

В. Л. Галанский, Ю. Е. Крейндель, Е. М. Окс

Институт сильноточной электроники СО АН СССР, г. Томск
PDF полного текста (165 kB)
Поступила в редакцию: 13.09.1988
Тип публикации: Статья
УДК: 537.525
Образец цитирования: В. Л. Галанский, Ю. Е. Крейндель, Е. М. Окс, “Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы”, ТВТ, 27:4 (1989), 813–814
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GalKreOks89}
\by В.~Л.~Галанский, Ю.~Е.~Крейндель, Е.~М.~Окс
\paper Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы
\jour ТВТ
\yr 1989
\vol 27
\issue 4
\pages 813--814
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt4000}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt4000
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v27/i4/p813
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:125
    PDF полного текста:73
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024