Метод двух вращающихся сфер при исследовании спектральных полусферических коэффициентов отражения в ИК-диапазоне в условиях воздействия концентрированных потоков энергии

Предложена новая методика измерения спектральных полусферических коэффициентов отражения тугоплавких материалов в инфракрасной области спектра в условиях воздействия концентрированного светового излучения. Оригинальный способ освещения образца позволил применить эту методику для материалов со смешанным зеркально-диффузным характером отражения поверхности. В качестве анализатора спектра отраженного излучения использовался скоростной спектрометр ИКСС-2. Спектральный диапазон измерений $0.8$–$8$ мкм, температурный интервал $300$–$1500$ K. Температура облучаемой поверхности контролировалась инфракрасным пирометром с эффективной длиной волны $3.5$ мкм.