|
Теплофизика высоких температур, 1996, том 34, выпуск 3, страницы 482–485
(Mi tvt2760)
|
|
|
|
Краткие сообщения
Экспериментальное исследование электрической прочности к обратному дуговому пробою термоэмиссионного диода с цезиевым наполнением
В. В. Онуфриев, С. Д. Гришин Научно-исследовательский институт энергетического машиностроения, г. Москва
Поступила в редакцию: 14.07.1995
Образец цитирования:
В. В. Онуфриев, С. Д. Гришин, “Экспериментальное исследование электрической прочности к обратному дуговому пробою термоэмиссионного диода с цезиевым наполнением”, ТВТ, 34:3 (1996), 482–485; High Temperature, 34:3 (1996), 477–480
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvt2760 https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v34/i3/p482
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 177 | PDF полного текста: | 112 |
|