|
Теплофизика высоких температур, 2000, том 38, выпуск 6, страницы 853–861
(Mi tvt2183)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Исследование плазмы
Электропроводность полностью ионизованной магнитоактивной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами
Е. В. Заика, И. А. Муленко, А. Л. Хомкин Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
Аннотация:
Методом решения кинетического уравнения Больцмана выполнен расчет электропроводности полностью ионизованной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами, находящейся в постоянном во времени внешнем магнитном поле. Установлены зависимости продольной, поперечной и холловской проводимости от параметра неидеальности плазмы $\Gamma$ и степени ее замагниченности $\omega_e\tau_0$. Показано, что максимальное (по модулю) значение холловских компонент проводимости плазмы смещается в сторону меньших значений напряженности внешнего магнитного поля $H$ по мере роста параметра неидеальности $\Gamma$.
Поступила в редакцию: 21.10.1999
Образец цитирования:
Е. В. Заика, И. А. Муленко, А. Л. Хомкин, “Электропроводность полностью ионизованной магнитоактивной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами”, ТВТ, 38:6 (2000), 853–861; High Temperature, 38:6 (2000), 821–828
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvt2183 https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v38/i6/p853
|
|