|
Теплофизика высоких температур, 2000, том 38, выпуск 1, страницы 5–11
(Mi tvt2010)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Исследование плазмы
Электропроводность полностью ионизованной неидеальной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами
Е. В. Заика, И. А. Муленко, А. Л. Хомкин Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
Аннотация:
Решено уравнение Больцмана и найдена электропроводность полностью ионизованной неидеальной плазмы
с экранированным взаимодействием между зарядами. Для радиуса экранировки использовано интерполяционное соотношение между дебаевским и средним межчастичным радиусами. Установлены зависимости спитцеровского множителя $\gamma_E$ и кулоновского логарифма $\Lambda$ от параметра неидеальности $\Gamma$. Показано, что различные способы исключения далеких столкновений, основанные на ограничении транспортных сечений рассеяния заряженных частиц и потенциала их взаимодействия, дают близкие значения электропроводности плазмы.
Поступила в редакцию: 16.03.1999
Образец цитирования:
Е. В. Заика, И. А. Муленко, А. Л. Хомкин, “Электропроводность полностью ионизованной неидеальной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами”, ТВТ, 38:1 (2000), 5–11; High Temperature, 38:1 (2000), 1–7
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvt2010 https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v38/i1/p5
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 259 | PDF полного текста: | 101 |
|