Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теплофизика высоких температур, 2008, том 46, выпуск 5, страницы 709–716 (Mi tvt1136)  

Эта публикация цитируется в 21 научных статьях (всего в 21 статьях)

Тепломассообмен и физическая газодинамика

Комплексное измерение волновых характеристик нагреваемой пленки жидкости емкостным и флуоресцентным методами

Е. А. Чиннов, С. М. Харламов, А. Д. Назаров, Е. Э. Соколов, Д. М. Маркович, А. Ф. Серов, О. А. Кабов

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук
Аннотация: Измерение волновых характеристик пленки жидкости разными методами позволяет повысить достоверность данных и получить новую информацию об изучаемом процессе. Наряду с данными емкостного метода, который уже был применен для исследования поля и динамики толщины неизотермической пленки жидкости, в данной работе приведены результаты измерения флуоресцентным методом. Полученные впервые при помощи флуоресцентного метода количественные характеристики неизотермического пленочного течения сравниваются с данными восьмиканального емкостного толщиномера. Проанализированы возможности каждого метода для измерения характеристик неизотермической пленки жидкости в области нагревателя. Экспериментально показано, что данные, полученные емкостным и флуоресцентным методами, хорошо согласуются друг с другом. Это позволяет высказать предположение, что оба способа измерения предоставляют результаты, которые с достаточной точностью описывают реальную волновую картину течения неизотермической пленки жидкости.
Точность измерения толщины неизотермической пленки жидкости флуоресцентным и емкостным методами не менее $3\%$. Пространственное разрешение емкостного метода составляет $0.5$$1$ мм, а флуоресцентного — $0.1$ мм.
Поступила в редакцию: 03.04.2007
Англоязычная версия:
High Temperature, 2008, Volume 46, Issue 5, Pages 647–653
DOI: https://doi.org/10.1134/S0018151X0805009X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 536.423.4
PACS: 47.15 gm; 47.80.– v
Образец цитирования: Е. А. Чиннов, С. М. Харламов, А. Д. Назаров, Е. Э. Соколов, Д. М. Маркович, А. Ф. Серов, О. А. Кабов, “Комплексное измерение волновых характеристик нагреваемой пленки жидкости емкостным и флуоресцентным методами”, ТВТ, 46:5 (2008), 709–716; High Temperature, 46:5 (2008), 647–653
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ChiKhaNaz08}
\by Е.~А.~Чиннов, С.~М.~Харламов, А.~Д.~Назаров, Е.~Э.~Соколов, Д.~М.~Маркович, А.~Ф.~Серов, О.~А.~Кабов
\paper Комплексное измерение волновых характеристик нагреваемой пленки жидкости емкостным и флуоресцентным методами
\jour ТВТ
\yr 2008
\vol 46
\issue 5
\pages 709--716
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt1136}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=11480042}
\transl
\jour High Temperature
\yr 2008
\vol 46
\issue 5
\pages 647--653
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0018151X0805009X}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000259416800009}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=13579666}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-52349110594}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt1136
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v46/i5/p709
  • Эта публикация цитируется в следующих 21 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:177
    PDF полного текста:75
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024