Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теплофизика высоких температур, 1980, том 18, выпуск 1, страницы 174–180 (Mi tvt10032)  

Методы экспериментальных исследований и измерений

Измерение температуры поверхности некоторых полупрозрачных материалов

Ю. К. Лингарт, В. А. Петров

Институт высоких температур Академии наук СССР, г. Москва
Аннотация: Рассмотрены особенности создания ИК-пирометров для измерения температуры поверхности полупрозрачных материалов. Проведенный анализ спектральных свойств некоторых оптических материалов и при­емников ИК-излучения позволяет построить оригинальные системы объективов пирометров с малыми потерями энергии в оптических эле­ментах.
Поступила в редакцию: 21.05.1979
Тип публикации: Статья
УДК: 536.5
Образец цитирования: Ю. К. Лингарт, В. А. Петров, “Измерение температуры поверхности некоторых полупрозрачных материалов”, ТВТ, 18:1 (1980), 174–180
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{LinPet80}
\by Ю.~К.~Лингарт, В.~А.~Петров
\paper Измерение температуры поверхности некоторых полупрозрачных материалов
\jour ТВТ
\yr 1980
\vol 18
\issue 1
\pages 174--180
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt10032}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt10032
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v18/i1/p174
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:60
    PDF полного текста:38
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024