Теория вероятностей и ее применения
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Теория вероятн. и ее примен.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теория вероятностей и ее применения, 2023, том 68, выпуск 3, страницы 509–531
DOI: https://doi.org/10.4213/tvp5633
(Mi tvp5633)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Размер популяции критического ветвящегося процесса, эволюционирующего в неблагоприятной среде

В. А. Ватутин, Е. Е. Дьяконова

Математический институт им. В.А. Стеклова Российской академии наук, Москва, Россия
Список литературы:
Аннотация: Пусть $\{Z_n,\, n=0,1,\dots\}$ — критический ветвящийся процесс в случайной среде, и пусть $\{S_n,\, n=0,1,\dots\}$ — его сопровождающее случайное блуждание. Известно, что если распределение приращений этого случайного блуждания принадлежит (без центрирования) области притяжения устойчивого распределения, то существует правильно меняющаяся на бесконечности последовательность $a_1,a_2,\dots$ такая, что для любых $t\in (0,1]$ и $x\in (0,+\infty)$
\begin{align*} \lim_{n\to \infty}\mathbf{P}\biggl(\frac{\ln Z_{nt}}{a_n}\leq x\biggm| Z_n>0\biggr) &= \lim_{n\to \infty}\mathbf{P}\biggl(\frac{S_{nt}}{a_n}\leq x\biggm| Z_n>0\biggr) \\ &=\mathbf{P}(Y_t^+\leq x), \end{align*}
где $Y_t^+$ — значение в точке $t$ извилины единичной длины некоторого строго устойчивого процесса. Мы дополняем этот результат описанием условных распределений соответствующим образом нормированных случайных величин $\ln Z_{nt}$ и $S_{nt}$ при условии $\{S_n\leq \varphi(n); Z_n>0\}$, где $\varphi(n)\to \infty$ при $n\to \infty$ так, что $\varphi(n)=o(a_n)$.
Ключевые слова: ветвящийся процесс, неблагоприятная среда, вероятность невырождения.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-11-00111-П
Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда № 19-11-00111-П, https://rscf.ru/project/19-11-00111/.
Поступила в редакцию: 31.01.2023
Принята в печать: 01.02.2023
Англоязычная версия:
Theory of Probability and its Applications, 2023, Volume 68, Issue 3, Pages 411–430
DOI: https://doi.org/10.1137/S0040585X97T991532
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. А. Ватутин, Е. Е. Дьяконова, “Размер популяции критического ветвящегося процесса, эволюционирующего в неблагоприятной среде”, Теория вероятн. и ее примен., 68:3 (2023), 509–531; Theory Probab. Appl., 68:3 (2023), 411–430
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{VatDya23}
\by В.~А.~Ватутин, Е.~Е.~Дьяконова
\paper Размер популяции критического ветвящегося процесса, эволюционирующего в~неблагоприятной среде
\jour Теория вероятн. и ее примен.
\yr 2023
\vol 68
\issue 3
\pages 509--531
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvp5633}
\crossref{https://doi.org/10.4213/tvp5633}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=4665900}
\transl
\jour Theory Probab. Appl.
\yr 2023
\vol 68
\issue 3
\pages 411--430
\crossref{https://doi.org/10.1137/S0040585X97T991532}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85150938560}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp5633
  • https://doi.org/10.4213/tvp5633
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp/v68/i3/p509
  • Доклады по теме:
    Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Теория вероятностей и ее применения Theory of Probability and its Applications
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:156
    PDF полного текста:8
    Список литературы:22
    Первая страница:12
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024