Теория вероятностей и ее применения
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Теория вероятн. и ее примен.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Теория вероятностей и ее применения, 2010, том 55, выпуск 3, страницы 604–605
DOI: https://doi.org/10.4213/tvp4253 (Mi tvp4253) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Российско-японский симпозиум Стохастический анализ сложных статистических моделей

Methods of testing for normality of observations

T. Kamakura

Chuo University
PDF полного текста (103 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.4213/tvp4253
Англоязычная версия:
Theory of Probability and its Applications, 2011, Volume 55, Issue 3
DOI: https://doi.org/10.1137/S0040585X97985054
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: T. Kamakura, “Methods of testing for normality of observations”, Теория вероятн. и ее примен., 55:3 (2010), 604–605
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Kam10}
\by T.~Kamakura
\paper Methods of testing for normality of observations
\jour Теория вероятн. и ее примен.
\yr 2010
\vol 55
\issue 3
\pages 604--605
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvp4253}
\crossref{https://doi.org/10.4213/tvp4253}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20732845}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp4253
  • https://doi.org/10.4213/tvp4253
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp/v55/i3/p604
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Теория вероятностей и ее применения Theory of Probability and its Applications
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024