Труды института системного программирования РАН
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Труды ИСП РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Труды института системного программирования РАН, 2017, том 29, выпуск 5, страницы 75–92
DOI: https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2017-29(5)-5
(Mi tisp259)
 

A flat chart technique for embedded OS testing
[Техника плоских схем для тестирования встроенных операционных систем]

V. V. Nikiforov, S. N. Baranov

St. Petersburg Institute for Informatics and Automation of the Russian Academy of Sciences
Список литературы:
Аннотация: Современные автоматические устройства все чаще оснащаются микроконтроллерами. Логика работы автоматического оборудования поддерживается рядом различных встроенных программных приложений, которые выполняются под управлением встроенной операционной системы реального времени (ОС). Надежность ОС чрезвычайно важна для правильной работы всей автоматической системы. Поэтому встроенную ОС следует тщательно тестировать с помощью соответствующего набора автоматических тестов. Такой набор тестов для тестирования встроенной ОС обычно организуется как набор многозадачных тестовых приложений, которые должны выполняться под управлением данных. В статье представлены специальный язык для определения соответствующей логики задачи тестирования и концепция плоских съем для эффективного выполнения тестирования встроенной ОС. Чтобы избежать интенсивной интерпретации текстовых строк во время тестового прогона, предварительно образуется специальное представление теста, в котором исходная строковая форма преобразуется в форму регулярного массива и, таким образом, повышается эффективность тестирования. Ключевые слова: встроенные приложения; операционные системы; тестирование программного обеспечения; системы реального времени
Ключевые слова: встроенные приложения, операционные системы, тестирование программного обеспечения, системы реального времени.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: V. V. Nikiforov, S. N. Baranov, “A flat chart technique for embedded OS testing”, Труды ИСП РАН, 29:5 (2017), 75–92
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NikBar17}
\by V.~V.~Nikiforov, S.~N.~Baranov
\paper A flat chart technique for embedded OS testing
\jour Труды ИСП РАН
\yr 2017
\vol 29
\issue 5
\pages 75--92
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tisp259}
\crossref{https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2017-29(5)-5}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=30754465}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tisp259
  • https://www.mathnet.ru/rus/tisp/v29/i5/p75
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Труды института системного программирования РАН
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:155
    PDF полного текста:106
    Список литературы:41
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024