|
A flat chart technique for embedded OS testing
[Техника плоских схем для тестирования встроенных операционных систем]
V. V. Nikiforov, S. N. Baranov St. Petersburg Institute for Informatics and Automation of the Russian Academy of Sciences
Аннотация:
Современные автоматические устройства все чаще оснащаются микроконтроллерами. Логика работы автоматического оборудования поддерживается рядом различных встроенных программных приложений, которые выполняются под управлением встроенной операционной системы реального времени (ОС). Надежность ОС чрезвычайно важна для правильной работы всей автоматической системы. Поэтому встроенную ОС следует тщательно тестировать с помощью соответствующего набора автоматических тестов. Такой набор тестов для тестирования встроенной ОС обычно организуется как набор многозадачных тестовых приложений, которые должны выполняться под управлением данных. В статье представлены специальный язык для определения соответствующей логики задачи тестирования и концепция плоских съем для эффективного выполнения тестирования встроенной ОС. Чтобы избежать интенсивной интерпретации текстовых строк во время тестового прогона, предварительно образуется специальное представление теста, в котором исходная строковая форма преобразуется в форму регулярного массива и, таким образом, повышается эффективность тестирования. Ключевые слова: встроенные приложения; операционные системы; тестирование программного обеспечения; системы реального времени
Ключевые слова:
встроенные приложения, операционные системы, тестирование программного обеспечения, системы реального времени.
Образец цитирования:
V. V. Nikiforov, S. N. Baranov, “A flat chart technique for embedded OS testing”, Труды ИСП РАН, 29:5 (2017), 75–92
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tisp259 https://www.mathnet.ru/rus/tisp/v29/i5/p75
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 155 | PDF полного текста: | 106 | Список литературы: | 41 |
|