Оценки устойчивости метрической $\varepsilon$-проекции через модуль выпуклости пространства

Изучается устойчивость в хаусдорфовой метрике метрической $\varepsilon$-проекции элемента $x$ из линейного нормированного пространства $(X,\|\cdot\|)$ на выпуклое подмножество $M\subset X$. Получена новая оценка устойчивости $\varepsilon$-проекции по совокупности параметров $x$, $M$, $\|\cdot\|$, $\varepsilon$, усиливающая все известные автору оценки такого типа при $\varepsilon>0$ и обобщающая соответствующие оценки при $\varepsilon=0$.