|
Вычислительная математика
Численный метод анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат
В. В. Шайдуровa, А. А. Корнееваb a Institute of Computational Modeling SB RAS,
Akademgorodok, 50/44,
660036, Krasnoyarsk, Russia
b Siberian Federal University,
79 Svobodny pr.,
660041, Krasnoyarsk, Russia
Аннотация:
An algorithm is proposed for determining the areas of overheating of a printed circuit board with electronic components and the temperature of overheating by analyzing nonlocal data from extended film thermistors. The algorithm is based on the physical-mathematical model of the temperature field of the board, as well as some qualitative characteristics of thermal states under study, which compensate the underdefinition of the original mathematical formulation. The results of computational experiments illustrating the operability of the algorithm are presented.
Ключевые слова:
film thermoresistors, physical-mathematical model, underdefined systems of equations, numerical algorithms.
Поступила 9 июня 2017 г., опубликована 15 сентября 2017 г.
Образец цитирования:
В. В. Шайдуров, А. А. Корнеева, “Численный метод анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат”, Сиб. электрон. матем. изв., 14 (2017), 914–926
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/semr834 https://www.mathnet.ru/rus/semr/v14/p914
|
|