|
Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел
М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох Институт химии твердого тела УрО РАН, г. Екатеринбург
Аннотация:
Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур.
Библиография — 122 ссылки.
Поступила в редакцию: 15.04.2013
Образец цитирования:
М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох, “Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел”, Усп. хим., 83:1 (2014), 13–37; Russian Chem. Reviews, 83:1 (2014), 13–37
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/rcr680 https://www.mathnet.ru/rus/rcr/v83/i1/p13
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 415 |
|