|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Дифракционные методы исследования электронной плотности и динамики решетки кристаллов
В. Г. Цирельсонa, Ю. З. Нозикa, В. С. Урусовb a Московский химико-технологический институт им. Д. И. Менделеева
b Институт геохимии и аналитической химии им. В. И. Вернадского АН СССР
Аннотация:
Изложены прецизионные дифракционные методы исследования электронной плотности, электростатического потенциала и динамики решетки кристаллов. Обсуждены получаемые с их помощью данные о тонких деталях химической связи в различных классах соединений. Рассмотрены формы представления и интерпретация данных по распределению электронной плотности и электростатического потенциала в кристаллах. Библиография – 96 ссылок.
Образец цитирования:
В. Г. Цирельсон, Ю. З. Нозик, В. С. Урусов, “Дифракционные методы исследования электронной плотности и динамики решетки кристаллов”, Усп. хим., 55:4 (1986), 608–636; Russian Chem. Reviews, 55:4 (1986), 316–333
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/rcr3709 https://www.mathnet.ru/rus/rcr/v55/i4/p608
|
|