Успехи химии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Усп. хим.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Успехи химии, 1995, том 64, выпуск 8, страницы 818–833
DOI: https://doi.org/10.1070/RC1995v064n08ABEH000174 (Mi rcr1250) 		 
Эта публикация цитируется в 43 научных статьях (всего в 43 статьях)

Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности

А. И. Данилов

Институт физической химии РАН, г. Москва
PDF полного текста Полный текст английской версии Список цитирования (43)
DOI: https://doi.org/10.1070/RC1995v064n08ABEH000174
Аннотация: Рассмотрены теоретические основы, принцип действия, конструктивные особенности и последние достижения сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии in situ применительно к электрохимическим исследованиям поверхности металлических электродов, процессов адсорбции и электрокристаллизации. Библиография - 172 ссылки.
Поступила в редакцию: 14.03.1995
Англоязычная версия:
Russian Chemical Reviews, 1995, Volume 64, Issue 8, Pages 767–781
DOI: https://doi.org/10.1070/RC1995v064n08ABEH000174
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 541.138


Образец цитирования: А. И. Данилов, “Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности”, Усп. хим., 64:8 (1995), 818–833; Russian Chem. Reviews, 64:8 (1995), 767–781
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/rcr1250
  • https://www.mathnet.ru/rus/rcr/v64/i8/p818
    • Эта публикация цитируется в следующих 43 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Успехи химии Russian Chemical Reviews
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024