|
Эта публикация цитируется в 43 научных статьях (всего в 43 статьях)
Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности
А. И. Данилов Институт физической химии РАН, г. Москва
Аннотация:
Рассмотрены теоретические основы, принцип действия, конструктивные особенности и последние достижения сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии in situ применительно к электрохимическим исследованиям поверхности металлических электродов, процессов адсорбции и электрокристаллизации. Библиография - 172 ссылки.
Поступила в редакцию: 14.03.1995
Образец цитирования:
А. И. Данилов, “Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности”, Усп. хим., 64:8 (1995), 818–833; Russian Chem. Reviews, 64:8 (1995), 767–781
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/rcr1250 https://www.mathnet.ru/rus/rcr/v64/i8/p818
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 271 |
|