|
Квантовая электроника, 1979, том 6, номер 5, страницы 1037–1042
(Mi qe9038)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 23 научных статьях (всего в 23 статьях)
Измерение параметров оболочечных мишеней для ЛТС при помощи рентгеновского шлирен-метода
К. Гетцa, М. П. Калашниковb, Ю. А. Михайловb, Г. В. Склизковb, С. И. Федотовb, Э. Ферстерa, П. Цаумзайльa a Йенский университет им. Ф. Шиллера АН ГДР
b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР
Аннотация:
Предлагается рентгеновский шлирен-метод контроля оболочечных мишеней для экспериментов по ЛТС с использованием двухкристального дифрактометра. Полученные этим методом одномерные увеличенные снимки оболочечных мишеней демонстрируют возможность определения толщины оболочек ≥ 3З мкм с точностью ± 0,15 мкм.
Поступила в редакцию: 28.07.1978
Образец цитирования:
К. Гетц, М. П. Калашников, Ю. А. Михайлов, Г. В. Склизков, С. И. Федотов, Э. Ферстер, П. Цаумзайль, “Измерение параметров оболочечных мишеней для ЛТС при помощи рентгеновского шлирен-метода”, Квантовая электроника, 6:5 (1979), 1037–1042 [Sov J Quantum Electron, 9:5 (1979), 607–610]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe9038 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v6/i5/p1037
|
|