Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1981, том 8, номер 12, страницы 2650–2655 (Mi qe8935)  

II Всесоюзная школа "Применение лазеров в биологии" (Тбилиси, 24-29 ноября 1980 г.)

Изучение особенностей летального действия УФ излучения 266 нм высокой интенсивности на дрожжевые клетки

Т. Г. Бурчуладзе, С. А. Валева, Г. Я. Фрайкин, Л. Б. Рубин

Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
Аннотация: Рассматриваются особенности инактивации, фотореактивации и фотозащиты дрожжевых клеток, облученных лазерным УФ излучением 266 нм высокой интенсивности (УФВИ). Обсуждается возможный механизм образования летальных повреждений, возникающих при действии УФВИ.
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1981, Volume 11, Issue 12, Pages 1611–1614
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1981v011n12ABEH008935
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 582.282.23.095.14:535.339.047
PACS: 87.50.Eg


Образец цитирования: Т. Г. Бурчуладзе, С. А. Валева, Г. Я. Фрайкин, Л. Б. Рубин, “Изучение особенностей летального действия УФ излучения 266 нм высокой интенсивности на дрожжевые клетки”, Квантовая электроника, 8:12 (1981), 2650–2655 [Sov J Quantum Electron, 11:12 (1981), 1611–1614]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe8935
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v8/i12/p2650
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:122
    PDF полного текста:136
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024