Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1981, том 8, номер 10, страницы 2130–2135 (Mi qe8431)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

О методике диагностики процессов в разрядной камере быстропроточного CO2-лазера

В. А. Куклин, Ю. Е. Польский

Казанский авиационный институт им. А. Н. Туполева
Аннотация: Развита полуэмпирическая методика исследования характеристик разрядной камеры быстропроточного CO2-лазера. Показано, что для реализации методики достаточно измерить средний удельный энерговклад и среднюю по сечению камеры температуру газа. Отмечается малая чувствительность расчета эффективности работы разрядной камеры к неопределенности экспериментальных данных.
Поступила в редакцию: 23.01.1981
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1981, Volume 11, Issue 10, Pages 1302–1305
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1981v011n10ABEH008431
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 621.373.826.038.823
PACS: 52.80.Hc, 42.55.Dk


Образец цитирования: В. А. Куклин, Ю. Е. Польский, “О методике диагностики процессов в разрядной камере быстропроточного CO2-лазера”, Квантовая электроника, 8:10 (1981), 2130–2135 [Sov J Quantum Electron, 11:10 (1981), 1302–1305]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe8431
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v8/i10/p2130
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024