A. M. Андриеш, В. П. Жорник, А. В. Миронос, А. С. Смирнова, “Изменение дифракционной эффективности решетчатых структур, сформированных в тонких пленках халькогенидных стеклообразных полупроводников, под действием нейтронного облучения”, Квантовая электроника, 12:9 (1985), 1948–1951 [Sov J Quantum Electron, 15:9 (1985), 1284

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 1985, том 12, номер 9, страницы 1948–1951 (Mi qe7740)

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Краткие сообщения

Изменение дифракционной эффективности решетчатых структур, сформированных в тонких пленках халькогенидных стеклообразных полупроводников, под действием нейтронного облучения

A. M. Андриеш, В. П. Жорник, А. В. Миронос, А. С. Смирнова

Институт прикладной физики АН МССР, Кишинев

PDF полного текста (791 kB) Список цитирования (4)

Аннотация: Исследовано влияние достаточно больших потоков нейтронов на свойства дифракционных решетчатых структур, сформированных в тонких пленках халькогенидных стеклообразных полупроводников системы As–S. Обнаружена существенная зависимость характера изменения дифракционной эффективности и чувствительности материала от состава пленок. Найден способ значительного увеличения дифракционной эффективности и чувствительности для ряда составов при их облучении.

Поступила в редакцию: 26.11.1984

Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1985, Volume 15, Issue 9, Pages 1284–1287
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1985v015n09ABEH007740

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

УДК: 621.372.8.029.7

PACS: 61.80.Hg, 61.82.Fk, 42.79.Dj

Образец цитирования: A. M. Андриеш, В. П. Жорник, А. В. Миронос, А. С. Смирнова, “Изменение дифракционной эффективности решетчатых структур, сформированных в тонких пленках халькогенидных стеклообразных полупроводников, под действием нейтронного облучения”, Квантовая электроника, 12:9 (1985), 1948–1951 [Sov J Quantum Electron, 15:9 (1985), 1284–1287]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe7740

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v12/i9/p1948

Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Статистика просмотров:
Страница аннотации:	150
PDF полного текста:	78
Первая страница:	1

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы