|
Квантовая электроника, 1986, том 13, номер 9, страницы 1749–1769
(Mi qe7365)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Причины и распределение отказов в полупроводниковых лазерах (обзор)
П. Г. Елисеев Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
Аннотация:
Обсуждены различные факторы, влияющие на надежность полупроводниковых лазеров, и дан обзор результатов по их долговечности, полученных в лабораторных ресурсных испытаниях. Технический ресурс инжекционных лазеров на основе GaAlAs/GaAs превосходит 5·104 ч и по экстраполяции высокотемпературных испытаний может составлять более 106 ч. Лазеры на основе InGaAsP/IпР характеризуются не меньшей долговечностью, и экстраполированное значение ресурса непрерывной работы достигает, по литературным данным, более 1010 ч (при 10°C). Обсуждаются форма и параметры распределений отказов и способы прогнозирования ресурса.
Поступила в редакцию: 25.02.1986
Образец цитирования:
П. Г. Елисеев, “Причины и распределение отказов в полупроводниковых лазерах (обзор)”, Квантовая электроника, 13:9 (1986), 1749–1769 [Sov J Quantum Electron, 16:9 (1986), 1151–1164]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe7365 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v13/i9/p1749
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 215 | PDF полного текста: | 219 | Первая страница: | 1 |
|