О спектроскопических методах диагностики сверхплотной горячей плазмы

Рассматриваются возможности спектроскопических методов диагностики сверхплотной плазмы в широком диапазоне температур и плотностей. Анализируются четыре метода: по уширению и сдвигу линий рентгеновского спектра ионов, по измерению относительных интенсивностей интеркомбинационных и резонансных линий, по появлению плазменных сателлитов и по комбинационному рассеянию рентгеновского излучения постороннего источника на ленгмюровских колебаниях плазмы. Показано, что при подходящем выборе одного из этих методов можно обеспечить диагностику плазмы с электронной плотностью 10²²…10²⁶ см^–3 и температурой в диапазоне от 0,1 до 10 кэВ.