Влияние фокусировки излучения и качества обработки поверхностей оптической системы на измерение порогов оптического пробоя

В работе показано, что при фокусировке лазерного излучения в пятна размером в несколько длин волн наблюдается сильная зависимость пороговой мощности, необходимой для пробоя прозрачных диэлектриков, от глубины фокусировки в образец. Эта зависимость может иметь различную форму и определяется аберрациями всего оптического тракта, включая зеркала резонатора и испытуемый образец. Для определения абсолютных значений пороговой плотности мощности необходимо измерять размер центрального максимума в фокальной области внутри образца и долю энергии, концентрирующуюся в нем. При этом пороговая плотность мощности излучения не зависит от глубины фокусировки в образец.