|
Квантовая электроника, 1981, том 8, номер 3, страницы 615–622
(Mi qe6338)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Методика исследования абсолютной интенсивности рентгеновских спектров многозарядных ионов
К. Гетцa, М. П. Калашниковb, Ю. А. Михайловb, А. В. Родеb, Г. В. Склизковb, С. И. Федотовb, Э. Ферстерa, П. Цаумзайльa a Йенский университет им. Ф. Шиллера (ГДР)
b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
Аннотация:
С помощью двухкристального дифрактометра получены кривые отражения кристаллов кремния и кварца, результаты измерений сопоставлены с расчетными кривыми. Описана методика измерения абсолютной интенсивности рентгеновского излучения лазерной плазмы. Приведены оценки возможности применения полученных результатов для определения параметров лазерной плазмы.
Поступила в редакцию: 01.08.1980
Образец цитирования:
К. Гетц, М. П. Калашников, Ю. А. Михайлов, А. В. Роде, Г. В. Склизков, С. И. Федотов, Э. Ферстер, П. Цаумзайль, “Методика исследования абсолютной интенсивности рентгеновских спектров многозарядных ионов”, Квантовая электроника, 8:3 (1981), 615–622 [Sov J Quantum Electron, 11:3 (1981), 370–374]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe6338 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v8/i3/p615
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 126 | PDF полного текста: | 77 |
|