О периодических двухслойных структурах

На основе метода матричных экспонент развит новый единообразный подход к исследованию двухслойных периодических систем в общем случае произвольной оптической толщины слоев, который приводит к точным результатам для однородных слоев, а для систем неоднородных слоев использует ВКБ-приближение. Получены точные выражения для амплитудных коэффициентов отражения и прохождения ТЕ- и ТМ-волн при наклонном падении их на периодическую структуру из однородных слоев. Выражения не содержат полиномов Чебышева и определяются элементарными функциями. Аналогичного вида выражения для коэффициентов отражения и прохождения получены для периодической системы неоднородных слоев. Проанализированы различные случаи оптической толщины слоев. Определен ряд ранее неизвестных условий, при выполнении которых в многослойнике отсутствует отражение ТЕ- и ТМ-волн.