|
Квантовая электроника, 1986, том 13, номер 1, страницы 11–14
(Mi qe5125)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Сравнение различных методов измерения параметров эквивалентного ступенчатого профиля одномодовых волоконных световодов
А. В. Белов, Е. М. Дианов, С. В. Игнатьев, А. С. Курков, В. Б. Неуструев, А. В. Чиколини Институт общей физики АН СССР, Москва
Аннотация:
Проведено экспериментальное сравнение параметров эквивалентного ступенчатого профиля (ЭСП) ОВС, полученных следующими методами: по спектральной зависимости размера пятна моды, по длине волны высвечивания, ближнего и дальнего полей, интегрированием реального профиля. Показано, что наиболее приемлемым является метод определения параметров ЭСП по спектральной зависимости размера пятна моды.
Поступила в редакцию: 25.12.1985
Образец цитирования:
А. В. Белов, Е. М. Дианов, С. В. Игнатьев, А. С. Курков, В. Б. Неуструев, А. В. Чиколини, “Сравнение различных методов измерения параметров эквивалентного ступенчатого профиля одномодовых волоконных световодов”, Квантовая электроника, 13:1 (1986), 11–14 [Sov J Quantum Electron, 16:1 (1986), 4–7]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe5125 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v13/i1/p11
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 211 | PDF полного текста: | 102 | Первая страница: | 1 |
|