Обратная задача статистики лазерного пробоя

Развиты методы построения устойчивых решений обратной задачи лазерного пробоя прозрачных сред, содержащих микродефекты. Предложен метод построения функции плотности вероятности пробоя непосредственно по экспериментально измеряемым уровням отсечки прошедшего через среду импульса излучения. На основе этого метода разработан практический алгоритм для восстановления зависимости концентрации микродефектов от пороговой интенсивности инициирования пробоя. Применение этого алгоритма продемонстрировано на примере исследования дефектной структуры кристалла сапфира.