|
Квантовая электроника, 1983, том 10, номер 7, страницы 1348–1352
(Mi qe4360)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Экранирующее действие кратера при локальном и послойном анализе в масс-спектрографе с лазерно-плазменным источником ионов
А. И. Борискин, А. С. Брюханов, Ю. А. Быковский, В. М. Еременко, И. Д. Лаптев Завод электронных микроскопов им. 50-летия ВЛКСМ, г. Сумы
Аннотация:
Показано, что материалы с различными физическими свойствами имеют различную напряженность линейного участка зависимости заряда на щели монитора масс-спектрографа от числа импульсов лазера. Это различие, а также изменение соотношения одно- и двухзарядных ионов в аналитической части масс-спектрографа обусловлены формой кратеров, образующихся при взаимодействии лазерного излучения с исследуемым веществом.
Поступила в редакцию: 20.04.1982 Исправленный вариант: 19.07.1982
Образец цитирования:
А. И. Борискин, А. С. Брюханов, Ю. А. Быковский, В. М. Еременко, И. Д. Лаптев, “Экранирующее действие кратера при локальном и послойном анализе в масс-спектрографе с лазерно-плазменным источником ионов”, Квантовая электроника, 10:7 (1983), 1348–1352 [Sov J Quantum Electron, 13:7 (1983), 875–877]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe4360 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v10/i7/p1348
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 120 | PDF полного текста: | 71 | Первая страница: | 1 |
|