Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1991, том 18, номер 2, страницы 214–218 (Mi qe3750)  

Управление параметрами лазерного излучения

Исследование расходимости излучения импульсного СO2-ЭИЛ

И. В. Глухих, А. И. Дутов, В. Н. Чирков, И. Л. Ячнев
Аннотация: Экспериментально исследована зависимость расходимости излучения импульсного СO2-ЭИЛ атмосферного давления от мощности и длительности накачки, интенсивности вынужденного излучения, состава смеси и параметров резонатора. Проведено сравнение влияния на расходимость излучения катодной и анодной волн и волны плотности, возникающей на границе лазерного пучка из-за теплового самовоздействия. Показано, что только из-за самовоздействия расходимость излучения более чем в три раза превышает дифракционный предел.
Поступила в редакцию: 05.04.1990
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1991, Volume 21, Issue 2, Pages 189–193
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1991v021n02ABEH003750
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 621.373.826.038.823
PACS: 42.55.Lt, 42.60.By, 42.60.Jf


Образец цитирования: И. В. Глухих, А. И. Дутов, В. Н. Чирков, И. Л. Ячнев, “Исследование расходимости излучения импульсного СO2-ЭИЛ”, Квантовая электроника, 18:2 (1991), 214–218 [Sov J Quantum Electron, 21:2 (1991), 189–193]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe3750
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v18/i2/p214
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024