|
Квантовая электроника, 1992, том 19, номер 8, страницы 816–818
(Mi qe3591)
|
|
|
|
Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники
Влияние оптических параметров кристалла на точность измерения яркости квантовым фотометром
Г. Х. Китаева, А. Н. Пенин Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
Аннотация:
Рассмотрено проявление отражения и поглощения излучения в параметрическом преобразователе света
при абсолютном измерении спектральной плотности энергетической яркости с помощью квантового фотометра.
Предложен универсальный метод расчета поправочного множителя, исключающего систематические
погрешности, которые могут возникать при измерении яркости путем параметрическою преобразования
в кристалле с поглощением и отражением сигнальных, измеряемых волн или волн накачки. Для
преобразователей различной геометрии получены выражения поправочного множителя через коэффициенты
поглощения и отражения от граней кристалла всех волн, участвующих в параметрическом взаимодействии.
Поступила в редакцию: 24.01.1992
Образец цитирования:
Г. Х. Китаева, А. Н. Пенин, “Влияние оптических параметров кристалла на точность измерения яркости квантовым фотометром”, Квантовая электроника, 19:8 (1992), 816–818 [Sov J Quantum Electron, 22:8 (1992), 756–759]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe3591 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v19/i8/p816
|
|