Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1995, том 22, номер 3, страницы 239–241 (Mi qe330)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Активные среды

Определение вероятностей спонтанного излучения и сечений ударного уширения линий перехода 0001 – 1000 молекул CO2 прифойгтовском профиле линий

К. И. Аршинов, Н. С. Лешенюк

Институт технической акустики НАН Беларуси, г. Витебск
Аннотация: Измерена зависимость от давления коэффициента поглощения для линии P14 полосы 10.6 мкм молекулы CO2. Определены вероятность спонтанного излучения и ударная ширина исследуемой линии с фойгтовским профилем, полученные методом восстановления функции.
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1995, Volume 25, Issue 3, Pages 223–225
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1995v025n03ABEH000330
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 35.20.Pa, 33.20.Ea, 35.80.+s


Образец цитирования: К. И. Аршинов, Н. С. Лешенюк, “Определение вероятностей спонтанного излучения и сечений ударного уширения линий перехода 0001 – 1000 молекул CO2 прифойгтовском профиле линий”, Квантовая электроника, 22:3 (1995), 239–241 [Quantum Electron., 25:3 (1995), 223–225]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe330
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v22/i3/p239
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:257
    PDF полного текста:104
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024