В. В. Баланюк, В. Ф. Краснов, С. Л. Мушер, В. И. Проць, В. Э. Рябченко, С. А. Стоянов, С. Г. Струц, М. Ф. Ступак, В. С. Сыскин, “Выявление локальных характеристик кристаллического совершенства и ориентации полупроводниковых пленок CdTe методами нелинейной оптики”, Квантовая электроника, 22:2 (1995), 196–200 [Quantum Electron., 25:2 (1995), 183

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 1995, том 22, номер 2, страницы 196–200 (Mi qe320)

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Выявление локальных характеристик кристаллического совершенства и ориентации полупроводниковых пленок CdTe методами нелинейной оптики

В. В. Баланюк^a, В. Ф. Краснов^a, С. Л. Мушер^a, В. И. Проць^a, В. Э. Рябченко^a, С. А. Стоянов, С. Г. Струц^a, М. Ф. Ступак^a, В. С. Сыскин^a

^a Институт автоматики и электрометрии СО РАН, г. Новосибирск

PDF полного текста (270 kB) Список цитирования (5)

Аннотация: Исследовано локальное кристаллическое качество эпитаксиальных пленок CdTe с использованием ГВГ YAP:Nd-лазера в геометрии 'на просвет'. Показаны возможности применения созданного автоматизированного лазерного комплекса для локальной экспресc-диагностики кристаллического качества эпитаксиальных пленок.

Поступила в редакцию: 31.12.1995

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1995, Volume 25, Issue 2, Pages 183–186
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1995v025n02ABEH000320

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

PACS: 78.66.Fd, 42.65.Ky, 07.60.-j

Образец цитирования: В. В. Баланюк, В. Ф. Краснов, С. Л. Мушер, В. И. Проць, В. Э. Рябченко, С. А. Стоянов, С. Г. Струц, М. Ф. Ступак, В. С. Сыскин, “Выявление локальных характеристик кристаллического совершенства и ориентации полупроводниковых пленок CdTe методами нелинейной оптики”, Квантовая электроника, 22:2 (1995), 196–200 [Quantum Electron., 25:2 (1995), 183–186]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe320

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v22/i2/p196

Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы