Использование высоких порядков отражения от кристаллов слюды для рентгеноспектральных исследований в диапазоне длин волн 0.1 — 0.3 нм

Впервые проведены исследования кристаллографических и дисперсионных характеристик слюды для больших (V — XI) порядков отражения. Показано, что даже для XI порядка интегральное отражение достаточно интенсивно, чтобы использоваться в экспериментах. Высококачественный изгиб кристалла слюды по сферической поверхности с малым радиусом R = 100 мм и использование таких кристалл-анализаторов в схемах фокусирующих спектрографов с одномерным и двумерным пространственным разрешением позволили зарегистрировать малоинтенсивные спектры многозарядных ионов, образующихся в лазерной плазме и плазме Z-пинчей с уникальным спектральным разрешением λ/Δλ ≈ 6000 – 10000 в широком спектральном диапазоне (0.15 — 1.8 нм).