Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2005, том 35, номер 2, страницы 200–204 (Mi qe2728)  

Эта публикация цитируется в 23 научных статьях (всего в 23 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Численный анализ влияния типа поляризации ТЕМ00-моды излучения на форму поверхности реза при лазерной резке толстых листов металла

А. В. Зайцев, О. Б. Ковалев, А. М. Оришич, В. М. Фомин

Институт теоретической и прикладной механики им. С. А. Христиановича СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация: Проанализировано влияние поляризации гауссова пучка на поглощение излучения в процессе лазерной резки металла. Для расчета коэффициента поглощения излучения предложена обобщенная формула, которая описывает поляризацию трех типов (линейную, эллиптическую и круговую), при этом учитывается, что взаимодействие пучка может происходить с поверхностью металла произвольной формы. Сравнение с существующими аналогами (в случае линейной и круговой поляризаций излучения) подтвердило преимущество использования полученной формулы при пространственном описании формы образующейся поверхности, что очень важно для обработки (резка, сварка, сверление) толстых материалов. Численно исследовано влияние характеристик лазерного излучения на форму поверхности и глубину реза при резке листовой нержавеющей стали. Впервые показано, что при генерации моды ТЕМ00 резку материалов наиболее выгодно проводить излучением с ориентированной по направлению движения луча эллиптической поляризацией, характеризующейся определенным отношением полуосей.
Поступила в редакцию: 09.06.2004
Исправленный вариант: 26.10.2004
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2005, Volume 35, Issue 2, Pages 200–204
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2005v035n02ABEH002728
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 42.62.Cf, 42.60.Jf, 42.25.Ja


Образец цитирования: А. В. Зайцев, О. Б. Ковалев, А. М. Оришич, В. М. Фомин, “Численный анализ влияния типа поляризации ТЕМ00-моды излучения на форму поверхности реза при лазерной резке толстых листов металла”, Квантовая электроника, 35:2 (2005), 200–204 [Quantum Electron., 35:2 (2005), 200–204]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe2728
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v35/i2/p200
  • Эта публикация цитируется в следующих 23 статьяx:
    1. M. Schmidt, K. Cvecek, J. Duflou, F. Vollertsen, C.B. Arnold, M.J. Matthews, CIRP Annals, 2024  crossref
    2. Fengrong Luo, Yinghui Ren, Genyu Chen, Wei Zhou, Bang Hu, Yanyi Wang, Mingquan Li, Int J Adv Manuf Technol, 127:7-8 (2023), 3427  crossref
    3. Hui Deng, Xiaosheng Wu, Guangzhi Yuchi, Guoyue Liu, Zhou Xu, Jun Yi, Ceramics International, 49:5 (2023), 7649  crossref
    4. Nengru Tao, Genyu Chen, Wenjun Fang, Mingquan Li, Composite Structures, 305 (2023), 116498  crossref
    5. Hui Deng, Chuan He, Weiqi Liu, Wei Xiong, Engineering Science and Technology, an International Journal, 48 (2023), 101581  crossref
    6. Pang H., Haist T., Haecker T., J. Laser Appl., 33:3 (2021), 032007  crossref  isi
    7. Rodrigues G.C., Duflou J.R., J. Mater. Process. Technol., 264 (2019), 448–453  crossref  isi  scopus
    8. Rodrigues G.C., Duflou J.R., J. Phys. D-Appl. Phys., 51:6 (2018), 065601  crossref  isi  scopus
    9. Orishich A.M. Golyshev A.A. Shulyatyev V.B. Galev R.V. Kudryavtsev A.N., J. Laser Appl., 30:1 (2018), UNSP 012006  crossref  isi  scopus
    10. Shen H., Feng D., Yao Zh., J. Manuf. Sci. Eng.-Trans. ASME, 139:4 (2017), 041008  crossref  isi  scopus
    11. Golyshev A.A. Orishich A.M. Shulyatyev V.B., Proceedings of the XXV Conference on High-Energy Processes in Condensed Matter (HEPCM 2017), AIP Conference Proceedings, 1893, ed. Fomin V., Amer Inst Physics, 2017, UNSP 030004-1  crossref  isi  scopus
    12. Kheloufi K., Amara E.H., Benzaoui A., Laser Eng., 38:3-6, SI (2017), 127–136  isi
    13. Goppold C., Pinder T., Herwig P., J. Laser Appl., 28:3 (2016), 031501  crossref  isi  elib  scopus
    14. Rodrigues G.C., Duflou J.R., J. Laser Appl., 28:2 (2016), 022207  crossref  isi  scopus
    15. E. H. Amara, K. Kheloufi, T. Tamsaout, R. Fabbro, K. Hirano, Appl. Phys. A, 2015  crossref  isi  elib  scopus
    16. Kheloufi K., Amara E.H., Benzaoui A., J. Heat Transf.-Trans. ASME, 137:11 (2015), 112101  crossref  isi  scopus
    17. Kheloufi K., Amara E.-H., Material Science and Engineering Technology II, Advanced Materials Research, 856, ed. Gupta K., Trans Tech Publications Ltd, 2014, 220–225  crossref  isi  elib  scopus
    18. Koji Hirano, Remy Fabbro, J. Laser Appl, 24:1 (2012), 012006  crossref  isi  scopus
    19. Karim Kheloufi, El Hachemi Amara, Physics Procedia, 39 (2012), 872  crossref  adsnasa  isi  scopus
    20. Zaitsev Alexander, Gurin Alexei, Grigoriy Ermolaev, International Congress on Applications of Lasers & Electro-Optics, 2012, 650  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:349
    PDF полного текста:125
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
    math-net2025_03@mi-ras.ru
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025