Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2003, том 33, номер 8, страницы 704–710 (Mi qe2482)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Специальный выпуск, посвященный памяти академика А.М.Прохорова

Исследование локальных характеристик волоконных брэгговских решеток методом оптической пространственной рефлектометрии

И. Г. Королев, С. А. Васильев, О. И. Медведков, Е. М. Дианов

Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва
Аннотация: Приведено подробное описание метода оптической пространственной рефлектометрии, предназначенного для измерения локальных пространственных характеристик волоконных брэгговских решеток показателя преломления. Экспериментально продемонстрировано, что при использовании ИК и УФ источников излучения метод обеспечивает хорошую чувствительность измерения амплитуды модуляции индуцированного показателя преломления в сердцевине волоконного световода (~10-4) и высокое пространственное разрешение (~100 мкм и менее). Рассмотрены факторы, влияющие на точность измерений, и представлены оптимальные параметры схемы измерения и ограничения метода – как технические, так и методологические. Проведен сравнительный анализ существующих в настоящее время методов исследования пространственных свойств волоконных решеток с указанием областей их применения.
Поступила в редакцию: 11.04.2003
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2003, Volume 33, Issue 8, Pages 704–710
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2003v033n08ABEH002482
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 42.81.Cn, 42.40.Eq


Образец цитирования: И. Г. Королев, С. А. Васильев, О. И. Медведков, Е. М. Дианов, “Исследование локальных характеристик волоконных брэгговских решеток методом оптической пространственной рефлектометрии”, Квантовая электроника, 33:8 (2003), 704–710 [Quantum Electron., 33:8 (2003), 704–710]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe2482
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v33/i8/p704
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:264
    PDF полного текста:172
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024