Выбор оптимальных условий дифракции света и двухволнового взаимодействия в кубическом фоторефрактивном пьезокристалле $Bi_{12}SiO_{20}$

Экспериментально исследованы зависимости максимальных и минимальных дифракционной эффективности и эффективного усиления голограммы в кристалле $Bi_{12}SiO_{20}$ среза ($\bar1\bar10$) толщиной 2.1 мм от ориентационного угла, образованного вектором голографической решетки и кристаллографическим направлением $[001]$. Проведено сравнение ориентационных зависимостей азимутов поляризации, при которых достигаются экстремумы дифракционной эффективности и эффективного усиления. Показано, что азимуты поляризации считывающего света, соответствующие максимальным дифракционной эффективности и эффективному усилению, совпадают в интервалах ориентационных углов $0-90^\circ$, $270-360^\circ$ и различаются на $90^\circ$ в интервале $90-270^\circ$.