Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2023, том 53, номер 4, страницы 338–344 (Mi qe18272)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Лабораторная астрофизика, процессы с высокой плотностью энергии, диагностика и другие приложения

Диагностика экстремального света

О. Е. Вайсabc, К. А. Ивановdac, И. Н. Цымбаловdc, Н. Д. Бухарскийec, В. Ю. Быченковabc, Ф. А. Корнеевeac, А. Б. Савельевdac

a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
b Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н. Л. Духова, г. Москва
c Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук, г. Нижний Новгород
d Физический факультет, Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
e Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва
Список литературы:
Аннотация: Генерация мощных коротких лазерных импульсов ультрарелятивистской интенсивности (свыше 1020 Вт/см2) с использованием инфраструктуры XCELS и их применение для решения задач лазерно-плазменного взаимодействия и ускорения заряженных частиц, а также задач квантовой электродинамики требуют корректной диагностики параметров лазерного импульса в области взаимодействия при его острой фокусировке. Предлагается подход к измерению ключевых параметров XCELS-пучка, таких как его размер в каустике и пиковая интенсивность лазера. Предлагаемый метод основан на использовании процесса вакуумного ускорения заряженных частиц – электронов и протонов – из фокального объёма. При использовании распределения полей лазерного импульса вблизи его фокуса с помощью дифракционных интегралов Стрэттона–Чу и метода пробных частиц характеристики ускоренных электронов и ионов могут быть определены количественно строго (например, энергии ускоренных частиц и углы их вылета). Последнее позволяет предложить практически доступный экспериментальный метод диагностики излучения в отдельном лазерном выстреле и дизайн XCELS-эксперимента.
Ключевые слова: острая фокусировка, лазерный импульс экстремальной интенсивности, диагностика лазерных импульсов, ускорение протонов, ускорение электронов.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 20-21-00023
Фонд развития теоретической физики и математики "БАЗИС" 22-1-3-28-1
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Работа была выполнена при частичной поддержке РФФИ (грант № 20-21-00023) и Фонда развития теоретической физики и математики «БАЗИС» (грант № 22-1-3-28-1). Авторы из МГУ отмечают поддержку Министерства образования и науки в рамках национального проекта «Наука и университеты».
Поступила в редакцию: 30.11.2022
Англоязычная версия:
Bull. Lebedev Physics Institute, 2023, Volume 50, Issue suppl. 8, Pages S933–S941
DOI: https://doi.org/10.3103/S1068335623200150
Тип публикации: Статья


Образец цитирования: О. Е. Вайс, К. А. Иванов, И. Н. Цымбалов, Н. Д. Бухарский, В. Ю. Быченков, Ф. А. Корнеев, А. Б. Савельев, “Диагностика экстремального света”, Квантовая электроника, 53:4 (2023), 338–344 [Bull. Lebedev Physics Institute, 50:suppl. 8 (2023), S933–S941]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe18272
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v53/i4/p338
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:119
    Список литературы:26
    Первая страница:15
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024