Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2021, том 51, номер 5, страницы 453–458 (Mi qe17449)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Спектроскопический метод сравнения для определения температуры электронов высокотемпературной плазмы тяжелых элементов

А. П. Шевелько

Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
Список литературы:
Аннотация: Для дальнейшего развития метода сравнения исследованы рентгеновские спектры лазерной плазмы легких (Si, S, Cl, K, Ca, Ti) и тяжелых (Mo, W) элементов. Плазма создавалась при фокусировке наносекундного лазерного излучения (λ = 0.53 мкм, EL = 5 Дж, τ =2 нс) на массивные твердотельные мишени. Спектры регистрировались с помощью двух фокусирующих кристаллических спектрометров в диапазоне длин волн λ = 2–11 Å. Проведен детальный анализ спектров Н- и Не-подобных ионов для определения зависимости температуры электронов (Те = 500–800 эВ) от энергии лазерного импульса (EL = 0.5–5 Дж). Приводятся рекомендации по измерению Те по спектрам легких элементов с максимальной точностью. С использованием метода сравнения выполнена оценка температуры электронов плазмы тяжелых элементов (Mo, W), рентгеновские спектры которых имеют сложную структуру.
Ключевые слова: диагностика высокотемпературной плазмы, рентгеновская спектроскопия, многозарядные ионы, лазерная плазма, рентгеновские спектрометры.
Поступила в редакцию: 12.03.2021
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2021, Volume 51, Issue 5, Pages 453–458
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL17553
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья


Образец цитирования: А. П. Шевелько, “Спектроскопический метод сравнения для определения температуры электронов высокотемпературной плазмы тяжелых элементов”, Квантовая электроника, 51:5 (2021), 453–458 [Quantum Electron., 51:5 (2021), 453–458]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe17449
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v51/i5/p453
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024