Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2020, том 50, номер 7, страницы 636–642 (Mi qe17281)  

Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

Голографические технологии (подборка статей по материалам докладов на конференции ''HOLOEXPO 2019'')

Сдвиговая спекл-интерферометрия с использованием метода фазовых шагов

Г. Н. Вишняковab, А. Д. Ивановa, Г. Г. Левинa, В. Л. Минаевa

a Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, г. Москва
b Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана
Список литературы:
Аннотация: Проведено численное моделирование процесса измерения напряженно-деформированных состояний методом сдвиговой спекл-интерферометрии с использованием метода фазовых шагов. Разработана компьютерная модель с возможностью задания ее деформации и шероховатости, в которую входит модель диффузно отражающего тест-объекта, соответствующая по характеристикам реальной мембране, а также модель спекл-интерферометра, позволяющая получать спекл-интерферограммы при различных размерах спеклов и углов между интерферирующими пучками. Реализован процесс восстановления топограммы поверхности объекта по модельным спекл-интерферограммам методом фазовых шагов. С помощью разработанных моделей получена двумерная шерограмма, представляющая собой производную от поля деформации круглой мембраны. Сопоставление результатов численного моделирования с экспериментальными данными показало, что различия (среднеквадратичные отклонения) не превышают 0.02 мкм. Также показано, что погрешность реконструкции интерферограмм методом фазовых шагов значительно возрастает при деформациях тест-объекта более 12 мкм.
Ключевые слова: спекл-интерферометрия, шерография, метод фазовых шагов, напряженно-деформированные состояния, моделирование.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 05.595.21.0005
Работа выполнена с использованием оборудования ЦКП высокоточных измерительных технологий в области фотоники (ckp.vniiofi.ru), созданного на базе ФГУП “ВНИИОФИ” и поддерживаемого Минобрнауки России в рамках выполнения соглашения № 05.595.21.0005 (уникальный идентификатор RFMEFI59519X0005).
Поступила в редакцию: 18.02.2020
Исправленный вариант: 29.03.2020
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2020, Volume 50, Issue 7, Pages 636–642
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL17281
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья


Образец цитирования: Г. Н. Вишняков, А. Д. Иванов, Г. Г. Левин, В. Л. Минаев, “Сдвиговая спекл-интерферометрия с использованием метода фазовых шагов”, Квантовая электроника, 50:7 (2020), 636–642 [Quantum Electron., 50:7 (2020), 636–642]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe17281
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v50/i7/p636
  • Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:224
    PDF полного текста:111
    Список литературы:35
    Первая страница:20
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024