Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, А. И. Антонов, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич, “Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур”, Квантовая электроника, 50:7 (2020), 623–628 [Quantum Electron., 50:7 (2020), 623

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 2020, том 50, номер 7, страницы 623–628 (Mi qe17280)

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Голографические технологии (подборка статей по материалам докладов на конференции ''HOLOEXPO 2019'')

Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур

Г. И. Грейсух^a, Е. Г. Ежов^a, А. И. Антонов^a, В. А. Данилов^b, Б. А. Усиевич^c

^a Пензенский государственный университет архитектуры и строительства
^b Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН
^c Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва

PDF полного текста (591 kB) Список цитирования (3)

Список литературы:

PDF

HTML

Аннотация: Методы оценки параметров рельефно-фазовых дифракционных микроструктур (локального и интегрального Q-факторов) распространены на случай многослойных двухрельефных пилообразных микроструктур, что обеспечивает возможность выбора наилучших комбинаций оптических материалов для многослойных микроструктур при весьма незначительных затратах компьютерного времени. Предложен подход к исследованию многослойных микроструктур, основанный на совместном использовании Q-факторов и метода строгого анализа связанных волн, который позволил оценить предельные спектральные и угловые характеристики многослойных микроструктур различных типов.

Ключевые слова: дифракционный оптический элемент, многослойная рельефно-фазовая дифракционная микроструктура, дифракционная эффективность, скалярная и строгая теории дифракции.

Финансовая поддержка	Номер гранта
Российский научный фонд	20-19-00081
Работа выполнена в рамках гранта Российского научного фонда (проект № 20-19-00081).

Поступила в редакцию: 18.02.2020
Исправленный вариант: 19.03.2020

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2020, Volume 50, Issue 7, Pages 623–628
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL17278

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

Образец цитирования: Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, А. И. Антонов, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич, “Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур”, Квантовая электроника, 50:7 (2020), 623–628 [Quantum Electron., 50:7 (2020), 623–628]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe17280

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v50/i7/p623

Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Статистика просмотров:
Страница аннотации:	116
PDF полного текста:	21
Список литературы:	12
Первая страница:	12

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы