|
Квантовая электроника, 2020, том 50, номер 7, страницы 623–628
(Mi qe17280)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Голографические технологии (подборка статей по материалам докладов на конференции ''HOLOEXPO 2019'')
Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур
Г. И. Грейсухa, Е. Г. Ежовa, А. И. Антоновa, В. А. Даниловb, Б. А. Усиевичc a Пензенский государственный университет архитектуры и строительства
b Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН
c Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
Аннотация:
Методы оценки параметров рельефно-фазовых дифракционных микроструктур (локального и интегрального Q-факторов) распространены на случай многослойных двухрельефных пилообразных микроструктур, что обеспечивает возможность выбора наилучших комбинаций оптических материалов для многослойных микроструктур при весьма незначительных затратах компьютерного времени. Предложен подход к исследованию многослойных микроструктур, основанный на совместном использовании Q-факторов и метода строгого анализа связанных волн, который позволил оценить предельные спектральные и угловые характеристики многослойных микроструктур различных типов.
Ключевые слова:
дифракционный оптический элемент, многослойная рельефно-фазовая дифракционная микроструктура, дифракционная эффективность, скалярная и строгая теории дифракции.
Поступила в редакцию: 18.02.2020 Исправленный вариант: 19.03.2020
Образец цитирования:
Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, А. И. Антонов, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич, “Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур”, Квантовая электроника, 50:7 (2020), 623–628 [Quantum Electron., 50:7 (2020), 623–628]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe17280 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v50/i7/p623
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 116 | PDF полного текста: | 21 | Список литературы: | 12 | Первая страница: | 12 |
|